Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) - Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D; Principles of Patent Law for Parts A, B, C, D
Verlag | Beck Juristischer Verlag |
Auflage | 2017 |
Seiten | 223 |
Format | 21,0 x 29,7 x 1,8 cm |
Gewicht | 668 g |
ISBN-10 | 3406707890 |
ISBN-13 | 9783406707896 |
Bestell-Nr | 40670789A |
Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.