Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen - Simulation mit PSPICE
Verlag | Springer |
Auflage | 2024 |
Seiten | 251 |
Format | 17,0 x 1,5 x 23,9 cm |
Gewicht | 449 g |
ISBN-10 | 3658438207 |
ISBN-13 | 9783658438203 |
Bestell-Nr | 65843820A |
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnsc hicht-Silizium-Solarzellen.
Inhaltsverzeichnis:
Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- HF-Transistoren mit StreuparameternMOS-Feldeffekttransisotoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.-Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.- NTC- und PTC-Sensoren.- RGB-Farbsensor.- Piezoelektrische Summer.- Ultraschallwandler.- Gassensoren.- Ionensensitiver Feldeffekttransistor.- Silizium-Solarzellen